α-MoO3是一种典型的层状半导体过渡金属氧化物, 其独特的电子结构和晶格结构使其近些年来被广泛研究。相比于体相α-MoO3, α-MoO3薄膜因二维几何限制而具有优异的光学、电学和力学性质。然而, 单层无缺陷的α-MoO3薄膜的外延生长迄今尚未实现。本研究在超高真空条件下使用分子束外延技术, 首次在高定向热解石墨(HOPG)上范德瓦耳斯外延制备了单层无缺陷的半导体α-MoO3薄膜, 并通过氢气还原的方法产生线型缺陷, 使用扫描隧道显微镜研究了完整单层薄膜及缺陷处的形貌结构和表观能隙。结果表明: 通过精确控制衬底温度可以在HOPG衬底上制备出高质量单层α-MoO3薄膜; 薄膜厚度和单胞大小均符合单层α-MoO3特征, 扫描隧道谱显示其表观能隙为1.7 eV; 所生长薄膜的高质量可以通过衬底HOPG的摩尔纹进一步证实。通过引入氢气可以在薄膜表面获得与摩尔纹方向垂直的明亮线缺陷, 缺陷处的局域表观能隙为0.4 eV, 即在一个整体为宽表观能隙的半导体材料中间实现了局部的具有窄表观能隙的通道。

Zhao等提出利用一个八粒子团簇态作为量子信道,实现一个未知六粒子纠缠态的隐形传态方案, 他们的方案中发送方需要执行一个八粒子冯·诺依曼投影测量。对他们的方案进行了改进,利用一个四粒子团簇态作为量子信道 传送该未知六粒子纠缠态,发送方只需执行简单的门操作和单粒子测量,接收方执行适合的幺正操作并引入四个辅助粒子,就能完成隐形 传输的任务。在IBM公司的量子云计算平台上实现了所提出方案的原理验证。与之前的方案相比,所提出改进方案具有低资源消耗、 高传送效率和易于实验实现的优点。

采用了高反射率金属Al和电化学性能稳定的金属Mo, 在硅基底上制备了多层结构的 Al/Mo/MoO3阳极, 并研究了不同MoO3厚度下多层阳极的反射率。 在此基础上, 通过发光层共掺杂制备了顶部发光OLED器件, 并对器件发光机制进行了系统研究和分析。 实验结果表明: 采用发光层共掺杂制备的顶部发光OLED器件的色坐标, 随电流密度或电压的增加而发生漂移; OLED器件色坐标漂移的原因是三基色发光强度随电流密度的增加, 逐渐偏离了形成白光(0.33, 0.33)所需三基色强度比例值, 导致了OLED器件的色坐标发生了漂移, 其机制是发光层中主-客之间能量转移和陷阱共同作用的结果。 进一步研究发现, 在不同电压下, 红光发光强度随驱动电压（或电流密度）增大而线性地减小。

提出了一种能够克服匹配误差的红外图像超分辨率算法。该算法采用了多通道自适应正规技术来处理由于红外图像匹配不精确而引起的病态问题。由于每幅低分辨率图像的匹配误差都不相同, 因此每个通道的正规参数都自适应地被正规参数函数选择。提出的算法能够在没有任何先验信息的情况下对于图像匹配误差具有很强的鲁棒性。随着迭代过程的进行每个正规参数以及重建的图像不断地被更新。实验结果表明该算法相比传统算法在客观量度和视觉效果两个方面都具有较好性能。

采用高温熔融-冷却法制备了一系列Dy3+掺杂的B2O3-ZnO-Na2O-Al2O3发光玻璃, 通过红外光谱、紫外-可见-近红外光谱和荧光光谱等研究了其结构及发光特性。分析表明: 制备的发光玻璃中出现基质组分的结构特征峰及Dy3+的能级跃迁特征峰。在350 nm波长光激发下, 样品的发光强度、黄蓝发射峰比、荧光寿命、色坐标及色温等均随Dy3+浓度的变化发生明显的可调节变化。样品的荧光发射强度随Dy3+浓度的增加呈现先增大后减小的变化, 当Dy3+掺杂摩尔分数为 1.0%时, 发光强度最大。此外, 随着Dy3+掺杂浓度的增大, 发光玻璃的荧光寿命及发射光谱的色度坐标值、色温都呈现递减的趋势。这表明通过基质组分及掺杂元素的调节可以使得该硼酸盐体系发光玻璃获得高效可调节的光功能从而得到广泛应用。

为了去除X射线工业CT图像中的杯状伪影，提高CT图像的识别能力和量化分析精度，提出一种基于分度投影和权函数的射束硬化校正方法。首先分析得出杯状伪影主要是由X射线连续谱穿过被测物体过程中出现的射束硬化所导致。然后扫描阶梯模型，采集不同厚度下的投影数据并求出线衰减系数，通过拟合曲线，得到硬化模型函数和权函数校正模型函数，并确定权函数。接着，扫描被测圆柱形工件，采集不同分度下的投影数据。最后，针对每一个分度投影数据，采用权函数与当前分度投影数据乘积的方法进行硬化校正。对含有杯状伪影的实际CT图像进行了校正实验，结果表明，与多项式拟合法相比，该方法校正后的灰度图像没有放大噪声，且信噪比提高3.29%，有效地消除了杯状伪影，同时较好地保留了图像边界细节。

为克服探测器阵列获取速度慢、重建图像精度低的缺点，并能在低能X射线的小焦点/微焦点CT系统中完成对小型精密复杂器件的检测，研究了低能X射线工业CT的小间隔信号采集系统。系统选取DT公司0.2 mm像素尺寸、高集成度、扫描速度快的X-CARD 0.2-256G为探测器，Altera公司的Cyclone EP1C3T为主控芯片，Intel公司的LXT972A为以太网控制芯片。从数据传输的可靠、稳定、高效率角度出发，用模块化的方法给出了系统的硬件设计，用有限状态机技术完成了系统的逻辑单元设计，并对系统的动态范围进行了测试。测试实验结果表明，系统的动态范围大于4000，能够检测精密器件、准确迅速地完成信号的采集传输，满足实际工业CT对信号采集的要求。

为了实现物体表面粗糙度的测量, 基于激光散斑原理, 利用灰度共生矩阵方法计算了激光散斑图像的基本参量, 分析了激光散斑含有的物体表面粗糙度特征。在此基础上搭建了物体表面粗糙度激光散斑测量实验系统, 采集了不同表面粗糙度标准样板在不同入射角条件下的激光散斑图, 继而得到了研磨和平磨条件下散斑条纹对比度与光束入射角之间的关系。结果表明, 入射角约为60°时, 散斑特性及其对比度效果最好。

AM-OLED微型显示器由于其优良的性能，在红外系统图像显示方面有着广泛的应用。由于红外信号与显示图像的特殊性，需要对显示器的性能进行相关的优化，以达到优良的显示效果。通过相关研究，有效提升了与红外系统相配套的微型显示器的显示效果，特别在伽马校正与温度补偿方面做了深入研究，取得了较好的效果，具有良好的应用前景。